Dieses Buch beinhaltet eine Sammlung hierarchisch strukturierter Beispiele zur Demonstration der Leistungsfähigkeit heutiger Simulationssysteme zur Analyse der Störemissionen von Leiterplatten. Sind die geometrischen Strukturen von relativ einfacher Komplexität, wird auf das numerische Verfahren der Momentenmethode zurückgegriffen. Diese Methode ermöglicht eine sehr genaue Analyse aller physikalisch relevanten Mechanismen der Emission und Absorption elektromagnetischer Strahlung. Jedoch kann bei realen Leiterplatten die geometrische Komplexität durch viele tausend Verbindungsleitungen in einem Multilayerdesign gegeben sein, für die numerische Verfahren wie die Momentenmethode nicht mehr einsetzbar sind. Zur Lösung derartig komplexer Beispiele wird alternativ ein Verfahren vorgestellt, das als Expertensystem aufzubauen ist. Obwohl dieser Ansatz die physikalische Natur der Ab- und Einstrahlungsmechanismen nicht vollständig abbilden kann, scheint es derzeit der einzig realisierbare Weg zur Schaffung eines rechnergestützten Analysewerkzeuges zur Abschätzung des Strahlungsverhaltens von Leiterplatten zu sein.

Klappentext
Originally presented as the author's thesis (doctoral)--Universit'at Hamburg, 2001.